掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;并且景深大,視野大,成像立體效果好。掃描電鏡是一款具有高精度的電子儀器，在使用過程中需要注意很多的東西，才能夠延長掃描電鏡的使用壽命，在操作中有哪些具體的要求呢？下面小...

電子顯微鏡作為微觀形貌觀察的有力工具，正越來越迅速、廣泛地應用于冶金、礦物、化工、醫藥、生物、食品、納米材料等領域。相對透射電鏡，掃描電鏡真空度低、電子束流大。因此鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對較短，一般只有幾十個小時。燈絲壽命短直接帶來儀器運行成本增加、有效運行時間降低、污染增加，儀器性能降低等等不良后果。在實際工作中，通過采取一些措施可以顯著延長燈絲使用壽命。1.準確對中燈絲安裝、更換新燈絲時仍需檢查燈絲的對中情況，最好將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否...

掃描電鏡中的二次電子分析如果在樣品的上方安裝一個環形電子檢測器，用于搜集從樣品出射的能量在0~E。范圍內的電子，可以獲得一條類似圖的曲線，橫坐標為出射電子能量E，縱坐標為電子數量N。曲線最右端E。處是彈性背散射電子峰，僅占一小部分，大部分背散射電子在E。左邊I區域，其能量損失小于40%，對于多數中等和高原子序數的樣品出射的背散射電子落在這個隆起部位，而小部分能量損失大于40%的背散射電子處于區域Ⅱ，形成了曲線的尾部，如果把曲線向左外推到0能量處，其檢測到的電子數目應為零，但實...

掃描電鏡和電子探針儀所應用的主要信號電子束與樣品相互作用產生的各種信號是掃描電鏡獲得廣泛應用的基礎。本文重點講述掃描電鏡和電子探針儀所應用的主要信號，探討每種信號的成因、取樣區域和攜帶信息。掃描電鏡和電子探針儀在掃描電鏡鏡筒中，電子束通過電磁透鏡聚焦和電場加速，人射到樣品中，束電子與樣品原子核或核外電子發生多種相互作用，而被散射，引起束電子的運動方向或能量（或兩者同時）發生變化，從而產生各種反映樣品特征的信號。掃描電鏡和電子探針儀利用相應的探測器檢測這些信號，獲得樣品的不同特...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合,可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料...